如何通過(guò)阻抗分析儀測(cè)量樣品的介電常數(shù)

　　我們想通過(guò)阻抗分析儀測(cè)某種粉體(粒度約100微米左右)在不同溫度下(如室溫至600攝氏度)的介電常數(shù)，現(xiàn)在鄰近實(shí)驗(yàn)室有一臺(tái)阻抗分析儀，目前初定的方案是用兩個(gè)金電極作為極板，將該樣品壓片做成電介質(zhì)，然后組成一個(gè)平板電容，進(jìn)而通過(guò)阻抗分析儀測(cè)得該樣品的阻抗譜，然后解譜獲得該平板電容器在不同溫度下的電容，再通過(guò)平板電容器的計(jì)算公式求得其介電常數(shù)。

　　但是現(xiàn)在有個(gè)問(wèn)題是：測(cè)阻抗譜的時(shí)候頻率都是一個(gè)范圍，但是實(shí)際上介電常數(shù)和激發(fā)頻率有很密切的關(guān)系，因此就不知道這樣獲得的介電常數(shù)是哪個(gè)激發(fā)頻率下的了。

　　實(shí)際上，阻抗和介電常數(shù)都是頻率的函數(shù)，因此，習(xí)慣稱(chēng)的介電常數(shù)應(yīng)該稱(chēng)為介電系數(shù)更合適些，只不過(guò)人們習(xí)慣這種稱(chēng)謂，但介電常數(shù)并不是一個(gè)常數(shù)，測(cè)試頻率不同，這個(gè)常數(shù)也不同。對(duì)很多材料，當(dāng)頻率高于某個(gè)頻率時(shí)，這個(gè)常數(shù)變化很小，或從介電常數(shù)的曲線(xiàn)看，介電常數(shù)-頻率圖出現(xiàn)一個(gè)平臺(tái)，這時(shí)，選取平臺(tái)某一點(diǎn)對(duì)應(yīng)的頻率，再進(jìn)行單頻測(cè)試，或就用這個(gè)數(shù)值，但需要標(biāo)注為某頻率下的介電常數(shù)為多少。

　　你的測(cè)試方法是正確的，但是將粉體壓成致密的片，在陶瓷片的兩個(gè)面濺射一層金，或用導(dǎo)電金/銀膏體涂抹陶瓷面，再熱處理(200-400C)，這樣的電極才能保證與材料良好的電接觸。你直接用金屬薄片夾住陶瓷片的做法，很難保證良好的電接觸，除非在較大的壓力下。

　　阻抗分析儀器中，應(yīng)該有單頻選擇的，至于選擇哪個(gè)頻率，除了參考文獻(xiàn)外，建議作一個(gè)全頻測(cè)試，從介電常數(shù)-lgf曲線(xiàn)上平臺(tái)段選擇一個(gè)頻率，作為繼續(xù)測(cè)試的頻率。